Издательство: (812) 336-25-09
Интернет-магазин: (812) 412-54-93

Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов

Уровень образования:
Бакалавриат, Магистратура, Аспирантура
Печатное издание:
850 ₽
Электронная версия:
510 ₽
Вид издания
монография
Год
2018
Объем
284 с.
ISBN
978-5-8114-3312-4
Переплет
твердый
Формат
12,8*20 см
Издание
1-е изд.

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров.

Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».

Закрыть
Товар в корзине
Вы можете продолжить покупки или перейти к оформлению заказа.