Издательство: (812) 336-25-09
Интернет-магазин: (812) 412-54-93
Поиск по автору

Зотин В.Ф. - все книги автора. Издательство Лань

Сохранить список:
Excel Excel
PDF PDF

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров.

Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».

Год издания: 2018
Авторы: Дракин А.Ю., Зотин В.Ф., Потапов Л.А.
Печатное издание
850 ₽
Электронная версия
510 ₽
Закрыть
Товар в корзине
Вы можете продолжить покупки или перейти к оформлению заказа.
К началу страницы